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雙85恒溫恒濕試驗(yàn)箱

雙85恒溫恒濕試驗(yàn)箱

      雙85恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)備說(shuō)明:

      該產(chǎn)品適用于電子元器件的安全性能測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制

      設(shè)備型號(hào):TS-50 500×400×350(長(zhǎng)×寬×高)

      溫度沖擊型:A型-20~+150  B型-30~+150C型-40~+150

      D型-50~+150  E型-60~+150F型-70~+150

      雙85恒溫恒濕試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置:

      技術(shù)參數(shù)


      沖擊方式:兩箱式或三箱式(用戶(hù)自選)

      工作室溫度沖擊范圍:A型-20~+150  B型-30~+150C型-40~+150  D型-50~+150  E型-60~+150F型-70~+150 

      高溫室溫度范圍:60~150、 升溫時(shí)間≤45分鐘

      低溫室溫度范圍:根據(jù)用戶(hù)選擇的型號(hào),降溫時(shí)間≤45分鐘

      溫度波動(dòng)度:≤±0.5

      高溫室溫度偏差:≤±2

      低溫室溫度偏差:≤±2

      溫度恢復(fù)時(shí)間鐘: ≤5分

      工作室轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤10秒

      沖擊轉(zhuǎn)換方式:兩箱式為試件選擇環(huán)境轉(zhuǎn)換,三箱式為環(huán)境選擇試件轉(zhuǎn)換

      高溫室尺寸:700×700×350(深×寬×高)單位mm(LCR-50A)

      低溫室尺寸:700×700×350(深×寬×高)單位mm(LCR-50A)


      雙85恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn):

      1.GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  

      2.GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  

      3.GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  

      4.GB2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A  

      5.GB2423.2高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B  

      6.GB2423.22溫度變化試驗(yàn)、試驗(yàn)N  

      7.IEC68-2-14試驗(yàn)N  

      8.Guo軍標(biāo)GJB150.3-86  

      9.Guo軍標(biāo)GJB150.4-86  

      10.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法  

      11.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法  





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