??1、冷熱沖擊試驗(yàn)箱包含高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品放置于測試區(qū)中，采用獨(dú)特之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，被測物完全靜止，完成冷熱溫度沖擊測試;

??2、可由測試孔外加負(fù)載配線測試部件;

??3、大型彩色LCD觸控對話式微電腦控制系統(tǒng)，操作簡單易懂，運(yùn)行狀態(tài)一目了然;

??4、全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒，板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng);

??5、具有LAN網(wǎng)絡(luò)通訊接口，可連接電腦遠(yuǎn)程操控，使用便捷;

??6、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能;

??7、可在預(yù)約開機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能;

??8、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)，自動(dòng)(手動(dòng))除霜;

??9、控制器人機(jī)界面友好，程序設(shè)定方便，異常及故障排除顯示功能齊全。

??冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：(可根據(jù)客戶要求定制)

??1.提籃尺寸：710*345*410MM(W*H*D)

??2.降溫時(shí)間：+20℃～-55℃≤60min;

??3.試驗(yàn)槽溫度設(shè)定范圍：-55℃～+150℃

??4.高溫槽溫度設(shè)定范圍：+65℃～150℃

??5.低溫槽溫度設(shè)定范圍：-10℃～-65℃;

??(注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能)

??7.試驗(yàn)方式：試驗(yàn)時(shí)待測物在高溫槽與低溫槽之間移動(dòng)轉(zhuǎn)換，實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的

??8.溫度波動(dòng)度：±0.5℃

??9.溫度均勻度：±2.0℃

??(依量測規(guī)范：量測SENSOR置放點(diǎn)，離內(nèi)箱壁內(nèi)尺寸1/10處)

??10.沖擊復(fù)歸時(shí)間：-40℃～150℃約需5分鐘

??11.試驗(yàn)槽轉(zhuǎn)換移動(dòng)時(shí)間：≦10S

??12.高低溫沖擊恒溫時(shí)間各為30分鐘

??13.試樣限制：本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;生物試樣的試驗(yàn)或儲存;強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲存。

??冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)：

??GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法;GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法;

??GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn);GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);

??GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn);

??冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途：

??冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠、國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料等行業(yè)。

??冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料在瞬間經(jīng)高溫、低溫連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，以在*短時(shí)間內(nèi)檢測對產(chǎn)品于熱脹冷縮引起的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。